裸光纖測試盒 1公里 G652D 單模9/125 光源測量損耗 OTDR設備專用 多模50 62.5 OM3

品名:裸光纖測試盒 G652D 單模9/125 裸光纖1公里 

數量:1公里 (1只)

尺寸:長15.5x14x4.2公分

接頭:FC 可以訂製

如需要多模另外報價，接頭可以依照您的需要

熔接頭為:FC SC LC ST 

請事先聲明接頭代工接頭

另外有單模 多模 1KM 另外報價

產品說明:

1.連接頭可選  

2.長度1KM   

3.  鋁合金外殼 小巧輕便 防摔 防塵

技術參數:

最大衰減

1310NM ≤0.34 db/km　　1550NM ≤0.21 db/km　　

1625NM ≤0.23 db/km　　1383NM ≤0.32 db/km

機械特性：

防護測試：整段光線置於100Kpsi(0.7Gpa)拉力下。 相當於1%的應力。

動態拉力測試

非老化： ≥550Kpsi(3.80Gpa)　　

老  化： ≥440Kpsi(3.0 0Gpa)

該波段衰減值為進行抗氰化處理後

波長範圍內的衰減

在1285-1330nm 間 ≤0.05 db/km　

在1550-1575nm 間 ≤0.05 db/km　　

翹曲度 ≥ 4.0%

宏彎曲損失：軸直徑/轉/波長

32/1/1550 ≤0.5 db　　

50/100/1310 ≤0.05 db　

60/100/1550 ≤0.05 db　

60/100/1625 ≤0.10 db

不連續點

1310nm ≤0.05 db　　

1550nm ≤0.05 db

彩色色散：

285-1330nm ≤3.1 ps/nm.km　　

1550nm ≤17.5 ps/nm.km　　

1625nm ≤22.0 ps/nm.km

塗層剝離力 1.3N-5.0N

典型動態疲勞參數： ≥ 20

環境特徵

溫度附加衰減（-60oC--85 oC） ≤0.05 db/km

零色散波長 1302-1322nm

零色散斜率 ≤0.090 ps/nm2.km 溫-濕度迴圈附加衰減

（-10 oC--+85 oC RH 95%） ≤0.05 db/km

最大偏振色模色散係數

1310nm ≤0.2 ps/sqrt km　　1550nm ≤0.2 ps/sqrt km

浸水附加衰減：

23+-2 oC ≤0.05 db/km

偏振色模色散係數設計值 ≤0.2 ps/sqrt km

熱老化附加衰減： ≤0.05 db/km

光纜操作可能會對偏振係數產生巨大影響

有效群折射率

 1310NM 1. NM 1.4675

光線截止波長 1160—1320nm　　

光纜截止波長 ≤1260nm

模場直徑

1310nm 9.2+-0.4um　　

1550 10.4+-0.8um

幾何特性

包層直徑 125+-0.7um　　

包層不圓度 ≤0.8%　　

模場同心度誤差 ≤0.5um　　

塗層直徑 245+-7um　　

塗/包層同心度誤差 ≤12.0um

使用光時域反射儀（OTDR）測量光纖，有時會遇到光纖鏈路很短的情況。在對短的光纖鏈路測量時經常會得到較大的衰減值（xxdB/km）。使衰減指標不能獲得一個較好的評測與評估。這是為什麼呢？採用什麼方法可以獲得一個更好的測試結果呢？

由於光纖鏈路較短（一般小於1公里），OTDR測量到曲線具有一定的波動性，這些微小的波動性影響了最終的數值計算。在描述OTDR的技術參數中，有一個關於線形度的指標，一般的OTDR這個指標是0.05dB/dB（E6000C：0.05dB/dB；N3900A：0.03dB/dB），實際上這個指標描述的就是OTDR曲線的波動範圍。所以對於短光纖，OTDR測量的準確性是要受到挑戰的。這個問題也是目前OTDR所面臨的共同問題，那麼用什麼方法來降低這種影響呢？

1、加入2km測試光纖。

 由於加入了2km測試光纖，光纖長度被增長，這種影響就會降低。應該可以獲得一個較為滿意的結果。但由於增加了長度，同時也引入了測試誤差，這種方法還是具有一定的測試方法帶來的誤差。但作為驗證工程品質的測試資料是有相當的借鑒價值的。

 2、用光源、光功率計測量鏈路損耗，用OTDR測量長度。

  由於使用光源、光功率計測量鏈路損耗接近於標準損耗測量方法，所以損耗測量的精度提高了。當然對於短光纖盡可能採用解析度精度等級更高的光功率計，以降低誤差。長度測量採用OTDR獲得。用損耗值除以長度值即可得到單位長度衰減值。

3、OTDR測量曲線僅作為參考，OTDR測量重點在於排除鏈路障礙。

  短光纖測量中，OTDR測量曲線最好僅作為參考，作為定性的依據，而不要作為定量的依據。OTDR更多的任務用於處理鏈路中的障礙，如連接器的連接品質如何，熔接點的熔接品質，探察光纖微彎等內容。

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